屏蔽室或屏蔽暗室的屏蔽效能測試或性能測試是安裝的最后階段,這也可能是最重要的階段。不幸的是,測試過程被認為是麻煩的或在某種程度上被認為是不可思義,事實上,屏蔽室的測試標準是一致的。
主要的區(qū)別在于測試所用的設備不同。
事實上,屏蔽效能測試很簡單,并與MIL-STD-220也就是插入損耗測試標準是一致的。主要的區(qū)別在于測試所用的設備不同。
屏蔽房屏蔽效能測試基本上等同于電子測試設備的校準。與測試設備一樣,當小型屏蔽房的屏蔽效能降低時就需要對其進行校準。當校準屏蔽房或測定屏蔽暗室的屏蔽效能時,要使用輻射測試技術。所幸的是美國軍方和安全部門已建立了相應的標準。這些標準描述了特定頻率和測試場地條件下的測試方法、設備和測試過程。這些測試過程經(jīng)過微小的調(diào)整,就能應用于任何屏蔽房的安裝,并滿足用戶要求。
測試屏蔽效能最經(jīng)常用到的兩個測試標準或測試程序是MIL-STD-285和NSA65-6。這些文件描述了對設備配置和測試場地的要求。每個程序中也規(guī)定了測試頻率和衰減量。
屏蔽房屏蔽效能測試標準的描述
MIL-STD-285屏蔽效能測試標準
近年來, MIL-STD-285不但在工業(yè)界廣為應用,而且迄今為止應用最為廣泛。 MIL-STD-285規(guī)定的測試程序在屏蔽室規(guī)范上經(jīng)常被引用,但其頻率需根據(jù)用戶要求進行調(diào)整。
MIL-STD-285是第一個頒布的用于測試射頻屏蔽小室標準,它頒布于1956年6月,用于替代頒布于1954年8月的MIL-A-18123(SHIPS)。
MIL-STD-285標準的主要目的是為了建立一種標準或者方法,用于測量射頻屏蔽室的衰減特性,這些屏蔽室用于頻率范圍從100KHZ到10GHZ的電子測試。該標準包括對測試頻率、測試場地和屏蔽衰減(或者屏蔽效能)的要求。
MIL-STD-2855屏蔽房屏蔽效能測試標準也提供了關于測試所需設備種類的描述。盡管 MIL-STD-285標準覆蓋了從100KHZ到10GHZ的頻率范圍,但它僅僅要求測量屏蔽室在5個頻率點的衰減特性(參見表1)
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MIL-STD-285 |
NSA-65-6 |
磁場 |
頻率150KHz ~200KHz 間1 個頻率點 要求的衰減或屏蔽效能: 70dB
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1KHz 到1MHz 間4 個頻率點: 1KHz 要求的屏蔽效能: 20dB 10KHz 要求的屏蔽效能: 56dB 100KHz 要求的屏蔽效能: 96dB 1MHz 要求的屏蔽效能: 100dB |
電場 |
三個頻率點: 200KHz 、1MHz 、18MHz 要求的衰減或屏蔽效能: 100dB |
1KHz 到10MHz 間5 個頻率點: 1KHz 要求的屏蔽效能: 70dB 10KHz 要求的屏蔽效能: 100dB 100KHz 要求的屏蔽效能: 100dB 1MHz 要求的屏蔽效能: 100dB 10MHz 要求的屏蔽效能: 100dB |
平面波 |
一頻率點: 400KHz 要求的衰減或屏蔽效能: 100dB |
100KHz 到10GHz 間4 個頻率點: 100MHz 要求的屏蔽效能: 100dB 400MHz 要求的屏蔽效能: 100dB 1GHz 要求的屏蔽效能: 100dB 10GHz 要求的屏蔽效能: 100dB |
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